中紅外分光光度計(jì)-LINZA 2752系列

直測(cè)曲面透鏡，大容量樣品倉(cāng)與滑動(dòng)式探測(cè)器，中紅外快速檢測(cè)

中紅外分光光度計(jì)-LINZA 2752系列 2752 是為中波紅外（MWIR）波段設(shè)計(jì)的高性能分光光度計(jì)，有效波長(zhǎng)范圍覆蓋 2.7 μm–5.2 μm（2700–5200 nm），主要用于單枚透鏡及多透鏡組件（物鏡）的軸上透射測(cè)量。大多數(shù)光學(xué)元件均為透鏡，形狀涵蓋凸面、凹面、柱面和非球面等多種類型。透鏡在真空鍍膜室中完成鍍膜后，通常使用平面參考樣品來(lái)監(jiān)控工藝過(guò)程。然而曲面透鏡上的鍍膜特性往往與平面參考樣品存在偏差，這使得了解真實(shí)透鏡的透射率變得至關(guān)重要。以此行業(yè)難題為出發(fā)點(diǎn)，LINZA 2752 的設(shè)計(jì)目標(biāo)是對(duì)實(shí)際曲面光學(xué)元件進(jìn)行直接測(cè)量，打破僅依賴平面參考樣品進(jìn)行性能評(píng)價(jià)的傳統(tǒng)局限。這款設(shè)備配備了寬敞的樣品倉(cāng)和滑動(dòng)式探測(cè)器模塊，能夠測(cè)量單枚透鏡直徑 10 mm 至 150 mm 的透鏡，以及端到端總長(zhǎng)可達(dá) 680 mm 的完整透鏡組件（物鏡），涵蓋從透鏡鍍膜完成后到組件交付全線階段的光譜性能可追溯。該儀器主要應(yīng)用于單透鏡測(cè)量、多透鏡系統(tǒng)檢測(cè)、鍍膜基底評(píng)價(jià)以及紅外觀測(cè)、紅外傳感系統(tǒng)的性能驗(yàn)證，是光學(xué)制造生產(chǎn)線和產(chǎn)品出廠前檢驗(yàn)環(huán)節(jié)的理想工具，可顯著縮短生產(chǎn)節(jié)拍周期，提高質(zhì)檢效率。

規(guī)格參數(shù)：

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 大容量樣品倉(cāng)與滑動(dòng)式探測(cè)器

• 專為曲面光學(xué)元件設(shè)計(jì)的直接測(cè)量方案

• 廣泛的兼容性

• 高效的光譜掃描速度

• 高精度光學(xué)參數(shù)

• 參考通道設(shè)計(jì)

• 專用軟件支持

應(yīng)用方向：

LINZA 2752 主要面向中波紅外光學(xué)元件的研發(fā)與生產(chǎn)質(zhì)檢。其核心應(yīng)用涵蓋以下領(lǐng)域：

• 紅外光學(xué)透鏡鍍膜表征： 對(duì)鍍膜后的單枚透鏡（凸透鏡、凹透鏡、非球面透鏡）、多透鏡組件及完整物鏡進(jìn)行軸上透射光譜測(cè)量，評(píng)估增透膜、高反膜等紅外鍍膜在中波紅外波段（2.7–5.2 µm）的實(shí)際光學(xué)性能，為鍍膜工藝優(yōu)化提供直接數(shù)據(jù)。

• 紅外成像與傳感光學(xué)系統(tǒng)驗(yàn)證： 適用于紅外熱成像儀、中波紅外探測(cè)器、MWIR 光學(xué)傳感設(shè)備中的透鏡組件性能評(píng)估，確保組裝后的整機(jī)系統(tǒng)在中波紅外觀測(cè)波段達(dá)到設(shè)計(jì)預(yù)期的透射指標(biāo)。

• 光學(xué)鏡片來(lái)料檢驗(yàn)： 在鏡片供應(yīng)鏈中，采用 LINZA 2752 對(duì)采購(gòu)的中波紅外透鏡與鏡頭組件進(jìn)行全檢或抽樣檢測(cè)，確保入庫(kù)光學(xué)元件的中波紅外透射率符合采購(gòu)技術(shù)規(guī)范要求，從源頭控制光學(xué)系統(tǒng)裝配質(zhì)量的一致性。

• 質(zhì)量認(rèn)證與出貨前檢驗(yàn)： 為光學(xué)透鏡和物鏡制造商在生產(chǎn)線上配備 LINZA 2752 中波紅外光譜測(cè)量能力，在產(chǎn)品交付前對(duì)成品進(jìn)行出廠檢測(cè)與認(rèn)證，大幅降低客戶端的批次性退貨風(fēng)險(xiǎn)。

• 光學(xué)材料篩選： 對(duì)硅（Si）、鍺（Ge）、硫化鋅（ZnS）、硒化鋅（ZnSe）、硫系玻璃等中波紅外光學(xué)材料的基底材料和鍍膜元件進(jìn)行透射光譜表征，篩選合格的光學(xué)材料用于紅外光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與裝配。